双 色 显 微 镜
    又称铁谱显微镜。可完成对铁谱片上磨粒的形态观察、尺寸测量及成份分析。也可与测量读数器配套完成铁谱定量测量。
    双色显微镜装有透、反射两亇光源。即可用透射光观察磨粒的轮廓，又可用反射光观察磨粒表面的形貌，也可同时使用。
    高数值孔径的平场消色差物镜可有效分辨微米级磨粒。带有测量分划尺的目镜可对磨粒尺寸进行测量。
    借助附加滤色片、偏振光照明可对磨粒进行成份分析。
主要配置和技术参数
物镜(平场消色差): PL10×、PL25×、PL40×、60×
目镜(大视野): WF10×、WF16×、平场分划10×(0.1mm格值)  
目镜筒(三目镜): 转轴式，倾斜30°
转换器 :四孔
戴物台纵横移动范围 : 纵向34mm 横向74mm
载物台上下移动手轮格值 : 0.002mm
攝影装置 : 4×对焦攝影装置
照明系统 : 透射光照明、反射光照明
偏振光照明 : 检偏振片、起偏振片